С помощью электростимулированной миграции ионов серебра изготовлены матрицы микролинз в стеклах К8. Разработана теоретическая модель зависимости параметров микролинз от технологических режимов их изготовления. Полученные матрицы микролинз использовались в датчиках Шака-Гартмана для определения искажений волнового фронта.

Ключевые слова:  стекла, электростимулированная миграция ионов, матрица микролинз, датчик волнового фронта Шака-Гартмана.