Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
Апрель 2014 № 4(81)
УДК 535.343.2; 544.034.24

Использование Tm:YLF лазера для определения коэффициента диффузии хрома в ZnSe

Родин С. ., Балабанов С. ., Гаврищук Е. ., Еремейкин О. .

Представлена экспрессная методика определения коэффициентов диффузии хрома в ZnSe с использованием Tm:YLF лазера, излучающего на длине волны 1,908 мкм. Определены значения коэффициентов диффузии хрома в ZnSe, полученного осаждением из газовой фазы: D = (9,5 ± 0,6)х10-9 см2/с и D = (1,0 ± 0,1)х10-9 см2/с при 1100 и 900 °С, соответственно. Сечение поглощения ионов Cr2+ в селениде цинка на длине волны 1,908 мкм составило 4,6х10-19 см2.
Ключевые слова: Tm:YLF лазер, оптическая плотность, ZnSe:Cr, коэффициент диффузии
Информация 2002-2017 ©
Научно-технический «ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
Все права защищены.