Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
Апрель 2014 № 4(81)
УДК 535.345.673: 517.51

Критерий устойчивости спектральных характеристик многослойных интерференционных покрытий

Котликов Е. Н., Тропин А. Н.


Читать статью полностью 
Предложена методика определения устойчивости спектральных характеристик многослойных диэлектрических систем к возможным изменениям оптической толщины отдельных слоев. В основе методики лежит введенный критерий устойчивости синтезированных интерференционных покрытий. На примере распространенных четвертьволновых систем проиллюстрированы возможности методики для определения наиболее чувствительных слоев в структуре покрытия, выбора структуры покрытия и сравнительного анализа устойчивости структур.
Информация 2002-2017 ©
Научно-технический «ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
Все права защищены.