Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
Апрель 2014 № 4(81)
УДК 621.376.234: (621.396.62: 523.164)

Планарная система регистрации субмиллиметрового излучения

Есман А. ., Кулешов В. ., Зыков Г. ., Залесский В. .


Читать статью полностью 
Показано, что выполнение системы регистрации субмиллиметрового излучения на основе планарных открытых микрорезонансных структур в виде аподизированных диэлектрических решеток с коэффициентом заполнения, изменяющимся по линейному закону, связанных через трансформатор импеданса с низкобарьерным детекторным диодом Шоттки без смещения, позволяет достичь – потерь на отражение – –26,5 дБ, – коэффициента стоячей волны – 1,1,   – эффективности преобразования – 98,6% при шумовой эквивалентной мощности NEP – 8,05´10–12 Вт Гц–1/2.
Ключевые слова: аподизированная диэлектрическая решетка, низкобарьерный диод Шоттки с нулевым смещением, субмиллиметровое излучение, трансформатор импеданса
Информация 2002-2017 ©
Научно-технический «ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
Все права защищены.