Разработана программа, позволяющая снижать уровень шума, определяемого присутствием спеклов, при дифракционном лазерном контроле тканых материалов. Показано, что при исследовании дифракционных картин, полученных от металлических, синтетических и углеродных тканых полотен, наблюдается пропорциональный числу сложений рост отношения интенсивности основных интерференционных максимумов в суммарной дифракционной картине к интенсивности наблюдающихся в них спеклов. Полученные результаты объясняются в предположении, что появление спеклов в дифракционной картине обусловлено дифракцией от случайно расположенных неоднородностей в структуре ткани, всегда присутствующих внутри рапортов переплетения в освещаемом участке ткани.

Ключевые слова: дифракция света, спеклы, контроль геометрических параметров, тканые материалы