Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
Апрель 2014 № 4(81)
УДК 004.932 + 681.723

Цифровая микроскопия от нано до макро с использованием системы анализа изображений SIAMS

Кадушников Р. ., Алиевский В. ., Сомина С. ., Козерчук А. ., Петров М. .


Читать статью полностью 
Рассмотрены ключевые особенности новых систем анализа изображений, основанных на технологии электронных таблиц для работы с изображениями. Показана возможность перевода систем анализа изображений из разряда систем для визуализации в разряд средств измерений. Приведены примеры работы анализатора изображений SIAMS для анализа изображений микроструктур в широком диапазоне масштабов, полученных различными методами цифровой микроскопии.
Ключевые слова: системы анализа изображений, цифровая обработка изображений, технология электронных таблиц, цифровая микроскопия
Информация 2002-2017 ©
Научно-технический «ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
Все права защищены.