Интерференция в тонких пленках, в том числе образование полос равного накло- на, обычно рассматриваются для малых углов падения света. Однако в ряде случаев необходимо использовать большие углы падения лучей, когда замена синуса угла его аргументом неправомерна. В настоящей работе произведен точный расчет параметров интерференционной картины, образуемой при больших углах. При этом обнаружива- ется немонотонная зависимость расстояния между интерференционными полосами от угла падения. Кроме того, в работе получено выражение, связывающее расстояние между полосами с углом падения, длиной волны используемого источника света и толщиной образца, не ограниченное традиционным приближением и более точно описывающее полосы равного наклона. Экспериментальная проверка подтверждает полученные результаты.

Ключевые слова: интерференция, полосы равного наклона, угол падения