Научно-технический
«ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
издается с 1931 года
Январь 2014 № 1(81)
УДК535.8

Многоспектральные измерительные комплексы и их метрологическое обеспечение

Дмитриев Е., Сакян А., Сидоровский Н., Пудиков А., Старченко А., Филиппов В. Г.

На примерах показаны тенденции развития оптико-электронных комплексов для диагностики и паспортизации источников излучения сплошного спектра в лаборатор- ных, цеховых и натурных условиях. Рассмотрены вопросы метрологического обеспе- чения измерений.
Ключевые слова: фотоприемное устройство, аппаратно-программный комплекс, энергетическая калибровка, источник излучения сплошного спектра
Информация 2002-2021 ©
Научно-технический «ОПТИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ»
Все права защищены.